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FETS-2000b 薄膜鐵電性能綜合測(cè)試儀具有動(dòng)態(tài)電滯回線(xiàn)(DHM)、I-V特性、脈沖(PUND)、靜態(tài)電滯回線(xiàn)(SHM)、疲勞(FM)、漏電流(LM)、電流-偏壓、保持力(RM)、印跡(IM)的測(cè)...

研禾科技FETS-2000高溫鐵電測(cè)試儀可用于高溫環(huán)境下材料鐵電性能測(cè)試中測(cè)試信號(hào)的輸出和反饋信號(hào)的收集，可進(jìn)行電滯回線(xiàn)測(cè)試、漏電流測(cè)試、疲勞測(cè)試、電擊穿強(qiáng)度測(cè)試、小信號(hào)電容測(cè)試、PUND測(cè)試、印痕測(cè)...

CCDM-1000電容充放電測(cè)試儀用于研究電容的高電壓充放電性能，集控制器、高壓電源、信號(hào)采集器于一體，具有過(guò)阻尼、欠阻尼、疲勞等測(cè)試功能，配有高壓擊穿保護(hù)模塊。系統(tǒng)自動(dòng)采集充放電過(guò)程樣品兩端電壓變化...

FETS-2000變溫鐵電測(cè)試系統(tǒng)可用于高低溫環(huán)境下材料鐵電性能測(cè)試中測(cè)試信號(hào)的輸出和反饋信號(hào)的收集，可進(jìn)行電滯回線(xiàn)測(cè)試、漏電流測(cè)試、疲勞測(cè)試、電擊穿強(qiáng)度測(cè)試、小信號(hào)電容測(cè)試、PUND測(cè)試、印痕測(cè)試、...

ECTS-2000變溫電卡效應(yīng)測(cè)試系統(tǒng) 電卡測(cè)試采用直接法進(jìn)行測(cè)量，直接測(cè)量高低溫變溫環(huán)境下材料電卡效應(yīng)的等溫熵變，具有集成度高、測(cè)量精度高、靈敏度高、溫區(qū)寬等特點(diǎn)，具有高壓擊穿保護(hù)功能。配置專(zhuān)用的電...

PCTS-3000中低溫?zé)後岆娤禂?shù)測(cè)試系統(tǒng)采用直接測(cè)量法測(cè)量熱釋電材料在均勻升溫過(guò)程中釋放出來(lái)的熱釋電電流，計(jì)算得到本征熱釋電系數(shù)，適用于各種熱釋電薄膜、厚膜、單晶、陶瓷材料等的測(cè)試。

DPTS-3000高低溫介電溫譜測(cè)試儀（單通道、多通道）兼容安捷倫、是德、穩(wěn)科、益和、同惠等品牌的阻抗分析儀或LCR表，同時(shí)具有單通道和4通道測(cè)量模式，單通道模式適用于追求超高精度測(cè)量結(jié)果的場(chǎng)合，4通...

DPTS-RT-600高溫介電溫譜測(cè)試系統(tǒng)適用于電介質(zhì)材料介電溫譜、介電頻譜掃描的測(cè)試。系統(tǒng)軟件將高溫測(cè)試箱、高溫測(cè)試夾具、多通道切換器、阻抗分析儀等設(shè)備無(wú)縫連接，測(cè)量在不同溫度、不同測(cè)試頻率下電容(...

FMET-1000功能材料電學(xué)性能測(cè)試系統(tǒng)鐵電測(cè)試與高壓放大器、阻抗分析儀、樣品測(cè)試盒配套使用，可以完成鐵電、介電、壓電、電卡效應(yīng)、TSDC/TSC、熱釋電、絕緣電阻等電學(xué)測(cè)試，與高溫溫控裝置、變溫綜...

CCDM-1000高溫電容充放電測(cè)試系統(tǒng)用于電介質(zhì)的高電壓充放電性能，集控制器、高壓電源、信號(hào)采集器于一體，具有過(guò)阻尼、欠阻尼、疲勞等測(cè)試功能，配有高壓擊穿保護(hù)模塊。系統(tǒng)自動(dòng)采集充放電過(guò)程樣品兩端電壓...